功率半導(dǎo)體參數(shù)測試儀

此外，普賽斯儀表功率半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測試解決方案還支持交互式手動(dòng)操作或結(jié)合探針臺(tái)的自動(dòng)操作，能夠在整個(gè)表征過程中實(shí)現(xiàn)**和可重復(fù)的器件表征。同時(shí)，該方案還可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用，滿足高低溫測試需求。從pA*、mV*高精度源表到kA*、10kV源表，普賽斯的產(chǎn)品解決了國內(nèi)企業(yè)在半導(dǎo)體芯片以及第三代半導(dǎo)體芯片測試中的儀表國產(chǎn)化問題，并在客戶IGBT產(chǎn)線上推出了多條測試示范線，**了國內(nèi)IGBT測試的技術(shù)潮流。功率半導(dǎo)體參數(shù)測試儀就找普賽斯儀表，詳詢18140663476

產(chǎn)品特點(diǎn)

 高電壓、大電流

 具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達(dá)3500V(**可擴(kuò)展至10kV)

 具有大電流測量/輸出能力,電流高達(dá)6000A(多模塊并聯(lián))

 高精度測量

  nA*漏電流, μΩ*導(dǎo)通電阻

  0.1%精度測量

  模塊化配置

  可根據(jù)實(shí)際測試需要靈活配置多種測量單元系統(tǒng)預(yù)留升*空間,后期可添加或升*測量單元

  測試效率高

  內(nèi)置專用開關(guān)矩陣,根據(jù)測試項(xiàng)目自動(dòng)切換電路與測量單元

  支持國標(biāo)全指標(biāo)的一鍵測試

  擴(kuò)展性好

  支持常溫及高溫測試可靈活定制各種夾具